pte19990704007 in Business
Mikroscanner in Miniaturformat
Scanwinkel bis zu 40 Grad möglich
Dresden (pte) (pte007/04.07.1999/11:06)
Mikrooptische Systeme werden immer kleiner. Daher werden auch miniaturisierte Strahlablenker benötigt. Doch bisher scheiterte die Miniaturisierung häufig an zu geringen Ablenkwinkeln. Ein neuartiger am Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme (IMS) http://www.imsdd.fhg.de/ entwickelter, mikromechanischer Scanner könnte jetzt den Durchbruch schaffen.
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