Schnelltest für optische Materialkontrolle

Wissenschaftlern des Massachussetts Institute of Technology (MIT) http://web.mit.edu/ gelang die Entwicklung eines schnellen, einfach anzuwendenden Tests, der mit Hilfe eines Laserpulses dünne Filme analysieren kann, wie sie in den Komponenten moderner Mikroelektronik verwandt werden. Dieselbe optische Methode könnte eines Tages als eine Art Frühwarnsignal für Augenkrankheiten eingesetzt werden, oder bestimmte Materialien zwischen ihren einzelnen Phasenzuständen "optisch umschalten". Auf alle Fälle verspricht der Test, der Mikroelektronik-Industrie Millionen von Dollar einzusparen.