pte20200129002 in Forschung
Trick erleichtert Fehlersuche für 2D-Materialien
Innovative Methode von Forschern der Penn State könnte Elektronik-Anwendungen erleichtern
University Park (pte002/29.01.2020/06:05)
2D-Materialien wie Graphen sind Hoffnungsträger für noch kompaktere, effizientere Elektronik. Doch wäre es wichtig, bei den atomdünnen Materialschichten schnell prüfen zu können, ob sie möglichst frei von Fehlern sind und sich daher auch tatsächlich für den Einsatz in komplexen Geräten eignen. Forscher an der Pennsylvania State University (Penn State) http://psu.edu haben nun ein Verfahren vorgestellt, das Materialdefekte schnell und genau sichtbar macht.
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