Testsystem macht Speichertests schneller

FLASH 750 reduziert Prüfzeiten um bis zu 40 Prozent

München (pte024/04.04.2000/12:08)

Teradyne Inc, laut eigenen Angaben der weltgrößte Hersteller von automatischen Testsystemen für die Elektronik-, Kommunikations- und Softwareindustrie, http://www.teradyne.com stellt anlässlich der Semicon Europa (4. bis 6. April) das Speichertestsystem FLASH 750 vor. Bei diesem System handelt es sich um eine integrierte Testzelle, die mit einer neuartigen Architektur die Prüfkosten für Flash-Speicher reduziert. Im Distributed Flash Processing (DFP)-Konzept steht hinter jedem Testsockel eine Architektur bereit (Processor-per-Site), die auf der Performance eines jeweils eigenen Prozessors basiert. Dies ermöglicht, dass der Test jedes Bausteins asynchron von den anderen durchführbar ist. Mit dieser Funktion lässt sich der nicht deterministische Testablauf von Flash-Bausteinen durchführen.

"Eine wesentliche Herausforderung im Test von Flash-Bausteinen, beispielsweise beim Trimm-Test, ist, dafür zu sorgen, dass der Tester nicht zum Hindernis wird", unterstreicht Mike Palumbo, Marketing Manager von Teradyne. Die Testzeiten werden länger, wenn der Tester während des Prüfablaufs bei jedem Schritt stets auf den langsamsten Speicher warten müsse, obwohl er längst bei allen anderen Bausteine fortfahren könnte. Bei Flash-Speichern sei man sich zu Beginn eines Testschritts niemals völlig sicher, wie lange dieser exakt dauern werde. Die DFP-Architektur der FLASH 750 sorge dafür, dass es im Prüfablauf keine Wartezeiten mehr gebe und reduziere bei typischen Flash-Bausteinen die Prüfzeiten um mehr als 40 Prozent im Vergleich zu anderen Architekturen, so Palumbo.

Mit der hohen Paralleltestkapazität durchbreche die FLASH 750 mit 32 ICs (serielle Speicherbausteine mit geringerer Pinzahl) die Barriere beim Sort-Test von NOR-Flash-Speichern für GSM-Telefone. Bisherige Tester konnten nur acht oder 16 Flash-Bausteine parallel prüfen. Der FLASH 750 sei in der Lage, parallel bis zu 128 ICs an einem Prober zu testen Das Wachstum für Flash-Bausteine sei laut Teradyne das größte unter allen Halbleiterarten, insbesondere durch den wachsenden Bedarf der Wireless-Applikationen. Industriebeobachter prognostizieren, dass bis zum Jahr 2003 das Bitvolumen der Speicher für GSM-Telefone jährlich um durchschnittlich mehr als 50 Prozent anwachsen werde. (Ende)