Testsystem macht Speichertests schneller

Teradyne Inc, laut eigenen Angaben der weltgrößte Hersteller von automatischen Testsystemen für die Elektronik-, Kommunikations- und Softwareindustrie, http://www.teradyne.com stellt anlässlich der Semicon Europa (4. bis 6. April) das Speichertestsystem FLASH 750 vor. Bei diesem System handelt es sich um eine integrierte Testzelle, die mit einer neuartigen Architektur die Prüfkosten für Flash-Speicher reduziert. Im Distributed Flash Processing (DFP)-Konzept steht hinter jedem Testsockel eine Architektur bereit (Processor-per-Site), die auf der Performance eines jeweils eigenen Prozessors basiert. Dies ermöglicht, dass der Test jedes Bausteins asynchron von den anderen durchführbar ist. Mit dieser Funktion lässt sich der nicht deterministische Testablauf von Flash-Bausteinen durchführen.