Leuchtende Chips überprüfen Glasfaserkabel

Neue Tests für Lichtwellenleiter entwickelt

Krefeld (pte020/31.03.2000/11:30)

Das Labor für optische Nachrichtentechnik der Fachhochschule Niederrhein http://www.fh-niederrhein.de/fb03/ entwickelt in Zusammenarbeit mit der Firma Infineon ein Messverfahren zur Qualitätsprüfung modernster Demultiplexer-Chips für Glasfaser-Telekommunikationssysteme. Sie ermöglichen die effektivere Ausnutzung vorhandener Glasfasernetze, deren Kapazität wegen des Internet-Booms an Grenzen stößt.

Durch die neue Wellenlängen-Multiplex-Technik lassen sich über nur eine Glasfaser viele Informationskanäle parallel übertragen. Die Übertragungskapazität von Glasfaserstrecken kann dadurch enorm gesteigert werden. Die Bündelung der Kanäle am Eingang und die Zerlegung am Ausgang der Glasfasern erfolgt mit sogenannten integriert-optischen Chips: das sind mehrere Zentimeter große Chips aus Silizium und Glas mit winzigen Strukturen zur Verarbeitung der Lichtsignale. Zu den Unternehmen, die bei dieser Zukunfstechnologie "die Finger im Spiel" haben, gehört der durch seinen Börsengang bundesweit bekannt gewordene Chiphersteller Infineon. In seinem Münchener Forschungszentrum wird an der Entwicklung der "Multimedia-Chips" gearbeitet.

"Das Licht auf dem Chip wird in optischen Kanälen wie in einer Glasfaser geführt", erläutert Prof. Dr. Georg Schulte, Laborleiter an der Fachhochschule Niederrhein. Mit Studierenden werden zur Zeit an Test-Chips von Infineon diese sogenannten Lichtwellenleiter vermessen. Dabei bedienen sich die Nachrichtentechniker eines selbstentwickelten optischen Nahfeldmikroskopes. Das aus dem Chip-Lichtwellenleiter austretende Licht wird mit einem winzigen Lichtdetektor (oder Lichtsonde) vermessen. Als Lichtdetektor wird eine an der Universität Duisburg hergestellte extrem feine Glasfaserspitze verwendet.

Die Abmessungen der Spitze bewegen sich im Bereich von einem Tausendstel Millimeter. Mit der Spitze wird ein Zehntausendstel Quadratmillimeter großes Lichtfeld mit extremer Genauigkeit abgerastert und somit die Qualität der Lichtwellenleiter geprüft. Das Messverfahren soll in einem mit Infineon geplanten Forschungsprojekt weiterentwickelt werden - und vielleicht, so Prof. Schulte, werden schon bald regelmäßig Chips von Infineon im Labor für optische Nachrichtentechnik getestet. Informationen: Rudolf Haupt, E-Mail: Rudolf.Haupt@FH-Niederrhein.de (idw) (Ende)