Spiegel: Forscher verbessern Mikroskop-Auflösung
Effiziente Methode mit neuem Deckglas ermöglicht viel schärfere Bilder
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Aufbau: Optische Mikroskope werden besser (Foto: Yicong Wu, nibib.nih.gov) |
Chicago (pte002/14.11.2017/06:05) Wissenschaftler der National Institutes of Health http://nih.gov und der University of Chicago http://uchicago.edu haben die Geschwindigkeit, Auflösung und Lichteffizienz eines optischen Mikroskopes wesentlich verbessert. Hierzu haben sie das konventionelle Deckglas mit einer reflektiven, gespiegelten Variante ausgetauscht und einen neuen Computer-Algorithmus integriert, der die Daten sofort analysiert.
Blick in den Spiegel
"Es ist ein bisschen so, als würde man in einen Spiegel schauen. Wenn du auf etwas in einem Spiegel schaust, kannst du es aus Perspektiven sehen, die sonst verdeckt geblieben wären. Wir nutzen das gleiche Prinzip mit dem Mikroskop. Wir können ein Untersuchungsstück aus normaler Sicht betrachten, indem wir die Linsen benutzen, während wir gleichzeitig auch die reflektierten Bilder durch den Spiegel aufzeichnen", erklärt der leitende Forscher Hari Shroff vom National Institute of Biomedical Imaging and Bioengineering http://nibib.nih.gov .
Während der Entwicklung tat sich das Problem auf, dass aus der konventionellen und der reflektierten Perspektive ein ungewollter Hintergrund in den Bildern sichtbar wurde. Um diesen Störfaktor zu beseitigen, arbeiteten die Forscher mit dem Team um Patrick La Riviere vom Department of Radiology zusammen. So erstellten die Experten eine Software, die den störenden Hintergrund erkennt und löscht, damit das Aufgenommene klar zu sehen ist.
Effizientes Arbeiten
Die Wissenschaftler haben für die Analyse der aufgezeichneten Bilder zudem einen Computer-Algorithmus entwickelt. Mit ihm wird die Geschwindigkeit deutlich schneller und die Auflösung der Bilder verdoppelt sich. Besonders vorteilhaft ist zudem, dass mit dem gespiegelten Deckglas mehr Licht eingefangen werden kann, ohne das Untersuchungsstück mehr Licht aussetzen zu müssen. Die Effizienz des Systems verdreifacht sich im Gegensatz zur gängigen Dual-Inverted-Selective-Plane-Illumination-Microscopy.
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